공부 (6) 썸네일형 리스트형 Persistence Images 안녕하세요. 톡발이입니다. 오늘은 지난 시간에 설명했던 TDA를 복습하고 그 중에서도 Persistence Images에 대해서 중점적으로 설명해보려고 합니다. 이를 위해서 "Persistence Images: A Stable Vector Representation of Persistent Homology"라는 논문에 대해서 리뷰를 해보려고 합니다. TDA에 관한 설명은 지난 글을 참고해주세요! 2023.10.25 - [분류 전체보기] - Topological Data Analysis 1 Topological Data Analysis 1 안녕하세요. 톡발이입니다. 오늘은 드디어 제가 공부하고 있는 Topological Data Analysis (TDA)가 무엇인지에 대하여 설명하는 글입니다. TDA는 전.. Topological Data Analysis 1 안녕하세요. 톡발이입니다. 오늘은 드디어 제가 공부하고 있는 Topological Data Analysis (TDA)가 무엇인지에 대하여 설명하는 글입니다. TDA는 전혀 상관없어 보이는 위상 수학과 인공지능 분야가 합쳐져서 만들어진 분야인데요. 그래서 위상 수학에 대해서 어느 정도 알고 있어야 이해하기가 쉬울 것입니다. 저도 대학교 수업 시간에 위상 수학을 들었었는데 정말 공부하면 할수록 너무 어려운 학문인 것 같습니다. 그래도 최대한 쉽게 글을 적어볼 테니 끝까지 봐주세요! TDA를 처음 공부했을 때 저는 논문으로 공부를 했습니다. " Topological data analysis: Concepts, computation, and applications in chemical engineering "이.. Kaggle WM Dataset으로 Wafer Map Defect Pattern 분류 실습 (논문 리뷰) 안녕하세요. 톡발이입니다. 오늘은 Kaggle에서 제공하는 실제 Wafer map 이미지 dataset을 통해서 지난 시간에 리뷰한 논문의 방법을 일부 채택하여 결함 패턴을 분류하는 실습을 해보려고 합니다. 지난 글의 내용은 아래에서 확인이 가능합니다. 2023.10.20 - [분류 전체 보기] - Ensemble 모델로 Wafer Map Defect Pattern 분류하기 (논문 리뷰) Ensemble 모델로 Wafer Map Defect Pattern 분류하기 (논문 리뷰) 안녕하세요. 톡발이입니다. 지난 글에서는 CNN을 활용해서 Wafer Map (WM)의 결함 패턴을 분류하는 방법에 대해서 알아보았는데요. 오늘은 CNN 말고 다른 방법으로 분류하는 방법에 대해서 소개해 드 aiegg-travel.. Ensemble 모델로 Wafer Map Defect Pattern 분류하기 (논문 리뷰) 안녕하세요. 톡발이입니다. 지난 글에서는 CNN을 활용해서 Wafer Map (WM)의 결함 패턴을 분류하는 방법에 대해서 알아보았는데요. 오늘은 CNN 말고 다른 방법으로 분류하는 방법에 대해서 소개해 드리려고 합니다. 오늘 리뷰할 논문은 " A Voting Ensemble Classifier for Wafer Map Defect Patterns Identifications in Semiconductor Manufacturing "이라는 논문으로 Ensemble 기법을 사용해 wafer map을 분류하는 방법에 대해서 나와 있는 논문입니다. 이전 연구들의 한계 초창기 때, wafer map defect를 분류하기 위해 시도했던 방법들에는 다음과 같은 문제점들이 있었습니다. 첫째, wafer 제조 기술의.. CNN으로 Wafer Map Defect Pattern 분류하기 (논문 리뷰) 안녕하세요. 이 글에서는 CNN으로 Wafer Map Defect Pattern을 분류하는 방법을 제안하는 논문을 하나 리뷰해 보려고 합니다. "Wafer Map Defect Pattern Classification and Image Retrieval Using Convolution Neural Network"이라는 논문입니다. TDA를 배우기 전에 먼저 기존에는 Wafer Map을 어떻게 분류했는지의 방법들에 대해서 짚고 넘어가려 합니다. 지난 글에서 제가 wafer map은 반도체 제조 과정 중 die의 root cause를 식별하는 데에 있어 엔지니어들에게 중요한 정보를 제공한다고 했었죠. 이 논문은 CNN을 사용한 wafer map defect pattern classification 및 imag.. Wafer map과 Topological Data Analysis 소개 안녕하세요. 톡발이입니다. 저는 현재 수학과에 다니면서 인공지능을 공부하고 있습니다. 제가 공부한 내용들을 기록하고 공유하는 목적으로 블로그를 작성하게 되었습니다. 요즘 제가 공부하고 있는 분야는 위상수학을 적용한 반도체 이상 감지입니다. 쉽게 말해서 반도체에 있는 이상을 인공지능으로 분류하겠다는 것인데요 기존에는 CV 분야의 가장 대표적인 CNN을 통해서 분류를 했다면 저는 Topological Data Analysis (TDA)를 적용해서 분류를 해보려고 합니다. 그럼 가장 먼저 제가 이용한 데이터셋이 뭔지부터 차근차근 설명해 드리겠습니다. 반도체 (Semiconductor) 반도체의 이상을 감지해야 하니까 먼저 반도체가 뭔지 알아야겠죠? 반도체를 설명하기 전에 먼저 도체와 부도체에 대해서 간단히 설.. 이전 1 다음
