리뷰 (4) 썸네일형 리스트형 Topological Data Analysis 2 안녕하세요. 톡발이입니다. 오늘은 지난 시간에 이어서 Topological Analysis Data (TDA)에 대해서 계속 이어서 설명하겠습니다. 이전 글의 내용은 아래의 링크에서 확인할 수 있습니다. 2023.10.25 - [분류 전체 보기] - Topological Data Analysis 1 Topological Data Analysis 1 안녕하세요. 톡발이입니다. 오늘은 드디어 제가 공부하고 있는 Topological Data Analysis (TDA)가 무엇인지에 대하여 설명하는 글입니다. TDA는 전혀 상관없어 보이는 위상 수학과 인공지능 분야가 합쳐 aiegg-travel.tistory.com Computational methods for TDA Simplicial homology의 기본.. Topological Data Analysis 1 안녕하세요. 톡발이입니다. 오늘은 드디어 제가 공부하고 있는 Topological Data Analysis (TDA)가 무엇인지에 대하여 설명하는 글입니다. TDA는 전혀 상관없어 보이는 위상 수학과 인공지능 분야가 합쳐져서 만들어진 분야인데요. 그래서 위상 수학에 대해서 어느 정도 알고 있어야 이해하기가 쉬울 것입니다. 저도 대학교 수업 시간에 위상 수학을 들었었는데 정말 공부하면 할수록 너무 어려운 학문인 것 같습니다. 그래도 최대한 쉽게 글을 적어볼 테니 끝까지 봐주세요! TDA를 처음 공부했을 때 저는 논문으로 공부를 했습니다. " Topological data analysis: Concepts, computation, and applications in chemical engineering "이.. MFD로 Mix-type Wafer Map Defect Pattern 분류하기 (논문 리뷰) 안녕하세요. 톡발이입니다. 그동안은 저희가 단일 유형의 결함 패턴에 대해서만 여러 가지 방법으로 분류를 해봤었는데요. 오늘 리뷰할 논문 " Mixed-Type Wafer Defect Pattern Recognition Framework Based on Multifaceted Dynamic Convolution "에서는 Convolution을 기반으로 해서 다양한 유형의 결함 패턴들이 섞여있는 mixed-type DPR (Defect Pattern Recognition) 대해서 분류하는 방법을 소개하고 있습니다. Introduction 제조 과정은 수백 개의 처리 단계를 거치기 때문에, wafer의 각 층에서 서로 다른 결함이 발생할 수 있습니다. 이러한 다양한 결함들이 함께 나타나면서 mixed-type.. Ensemble 모델로 Wafer Map Defect Pattern 분류하기 (논문 리뷰) 안녕하세요. 톡발이입니다. 지난 글에서는 CNN을 활용해서 Wafer Map (WM)의 결함 패턴을 분류하는 방법에 대해서 알아보았는데요. 오늘은 CNN 말고 다른 방법으로 분류하는 방법에 대해서 소개해 드리려고 합니다. 오늘 리뷰할 논문은 " A Voting Ensemble Classifier for Wafer Map Defect Patterns Identifications in Semiconductor Manufacturing "이라는 논문으로 Ensemble 기법을 사용해 wafer map을 분류하는 방법에 대해서 나와 있는 논문입니다. 이전 연구들의 한계 초창기 때, wafer map defect를 분류하기 위해 시도했던 방법들에는 다음과 같은 문제점들이 있었습니다. 첫째, wafer 제조 기술의.. 이전 1 다음
