반도체 (2) 썸네일형 리스트형 CNN으로 Wafer Map Defect Pattern 분류하기 (논문 리뷰) 안녕하세요. 이 글에서는 CNN으로 Wafer Map Defect Pattern을 분류하는 방법을 제안하는 논문을 하나 리뷰해 보려고 합니다. "Wafer Map Defect Pattern Classification and Image Retrieval Using Convolution Neural Network"이라는 논문입니다. TDA를 배우기 전에 먼저 기존에는 Wafer Map을 어떻게 분류했는지의 방법들에 대해서 짚고 넘어가려 합니다. 지난 글에서 제가 wafer map은 반도체 제조 과정 중 die의 root cause를 식별하는 데에 있어 엔지니어들에게 중요한 정보를 제공한다고 했었죠. 이 논문은 CNN을 사용한 wafer map defect pattern classification 및 imag.. Wafer map과 Topological Data Analysis 소개 안녕하세요. 톡발이입니다. 저는 현재 수학과에 다니면서 인공지능을 공부하고 있습니다. 제가 공부한 내용들을 기록하고 공유하는 목적으로 블로그를 작성하게 되었습니다. 요즘 제가 공부하고 있는 분야는 위상수학을 적용한 반도체 이상 감지입니다. 쉽게 말해서 반도체에 있는 이상을 인공지능으로 분류하겠다는 것인데요 기존에는 CV 분야의 가장 대표적인 CNN을 통해서 분류를 했다면 저는 Topological Data Analysis (TDA)를 적용해서 분류를 해보려고 합니다. 그럼 가장 먼저 제가 이용한 데이터셋이 뭔지부터 차근차근 설명해 드리겠습니다. 반도체 (Semiconductor) 반도체의 이상을 감지해야 하니까 먼저 반도체가 뭔지 알아야겠죠? 반도체를 설명하기 전에 먼저 도체와 부도체에 대해서 간단히 설.. 이전 1 다음
