실습 (2) 썸네일형 리스트형 Kaggle WM Dataset으로 Wafer Map Defect Pattern 분류 실습 (논문 리뷰) 안녕하세요. 톡발이입니다. 오늘은 Kaggle에서 제공하는 실제 Wafer map 이미지 dataset을 통해서 지난 시간에 리뷰한 논문의 방법을 일부 채택하여 결함 패턴을 분류하는 실습을 해보려고 합니다. 지난 글의 내용은 아래에서 확인이 가능합니다. 2023.10.20 - [분류 전체 보기] - Ensemble 모델로 Wafer Map Defect Pattern 분류하기 (논문 리뷰) Ensemble 모델로 Wafer Map Defect Pattern 분류하기 (논문 리뷰) 안녕하세요. 톡발이입니다. 지난 글에서는 CNN을 활용해서 Wafer Map (WM)의 결함 패턴을 분류하는 방법에 대해서 알아보았는데요. 오늘은 CNN 말고 다른 방법으로 분류하는 방법에 대해서 소개해 드 aiegg-travel.. Wafer Map Defect Pattern Classification Using CNN 실습 (2) 안녕하세요. 톡발이입니다. 오늘 지난 글에 이어서 계속 실습을 진행해보려고 합니다. 지난 글에서 wafer map dataset을 생성하는 것까지 완료했는데요. 오늘은 이렇게 만들어진 dataset을 가지고 CNN 모델을 직접 설계해서 분류해 보는 실습을 진행해 보겠습니다. 2023.10.18 - [분류 전체 보기] - Wafer Map Defect Pattern Classification Using CNN 실습 (1) Wafer Map Defect Pattern Classification Using CNN 실습 (1) 안녕하세요. 톡발이입니다! 오늘은 제가 지난 글에서 리뷰한 CNN을 활용해 wafer map의 이상을 감지하고 분류하는 논문의 방법대로 실제로 dataset도 생성해 보고 CNN을 이용해.. 이전 1 다음
