CV (1) 썸네일형 리스트형 CNN으로 Wafer Map Defect Pattern 분류하기 (논문 리뷰) 안녕하세요. 이 글에서는 CNN으로 Wafer Map Defect Pattern을 분류하는 방법을 제안하는 논문을 하나 리뷰해 보려고 합니다. "Wafer Map Defect Pattern Classification and Image Retrieval Using Convolution Neural Network"이라는 논문입니다. TDA를 배우기 전에 먼저 기존에는 Wafer Map을 어떻게 분류했는지의 방법들에 대해서 짚고 넘어가려 합니다. 지난 글에서 제가 wafer map은 반도체 제조 과정 중 die의 root cause를 식별하는 데에 있어 엔지니어들에게 중요한 정보를 제공한다고 했었죠. 이 논문은 CNN을 사용한 wafer map defect pattern classification 및 imag.. 이전 1 다음
