Ensemble (1) 썸네일형 리스트형 Ensemble 모델로 Wafer Map Defect Pattern 분류하기 (논문 리뷰) 안녕하세요. 톡발이입니다. 지난 글에서는 CNN을 활용해서 Wafer Map (WM)의 결함 패턴을 분류하는 방법에 대해서 알아보았는데요. 오늘은 CNN 말고 다른 방법으로 분류하는 방법에 대해서 소개해 드리려고 합니다. 오늘 리뷰할 논문은 " A Voting Ensemble Classifier for Wafer Map Defect Patterns Identifications in Semiconductor Manufacturing "이라는 논문으로 Ensemble 기법을 사용해 wafer map을 분류하는 방법에 대해서 나와 있는 논문입니다. 이전 연구들의 한계 초창기 때, wafer map defect를 분류하기 위해 시도했던 방법들에는 다음과 같은 문제점들이 있었습니다. 첫째, wafer 제조 기술의.. 이전 1 다음
