Wafer (4) 썸네일형 리스트형 MFD로 Mix-type Wafer Map Defect Pattern 분류하기 (논문 리뷰) 안녕하세요. 톡발이입니다. 그동안은 저희가 단일 유형의 결함 패턴에 대해서만 여러 가지 방법으로 분류를 해봤었는데요. 오늘 리뷰할 논문 " Mixed-Type Wafer Defect Pattern Recognition Framework Based on Multifaceted Dynamic Convolution "에서는 Convolution을 기반으로 해서 다양한 유형의 결함 패턴들이 섞여있는 mixed-type DPR (Defect Pattern Recognition) 대해서 분류하는 방법을 소개하고 있습니다. Introduction 제조 과정은 수백 개의 처리 단계를 거치기 때문에, wafer의 각 층에서 서로 다른 결함이 발생할 수 있습니다. 이러한 다양한 결함들이 함께 나타나면서 mixed-type.. Kaggle WM Dataset으로 Wafer Map Defect Pattern 분류 실습 (논문 리뷰) 안녕하세요. 톡발이입니다. 오늘은 Kaggle에서 제공하는 실제 Wafer map 이미지 dataset을 통해서 지난 시간에 리뷰한 논문의 방법을 일부 채택하여 결함 패턴을 분류하는 실습을 해보려고 합니다. 지난 글의 내용은 아래에서 확인이 가능합니다. 2023.10.20 - [분류 전체 보기] - Ensemble 모델로 Wafer Map Defect Pattern 분류하기 (논문 리뷰) Ensemble 모델로 Wafer Map Defect Pattern 분류하기 (논문 리뷰) 안녕하세요. 톡발이입니다. 지난 글에서는 CNN을 활용해서 Wafer Map (WM)의 결함 패턴을 분류하는 방법에 대해서 알아보았는데요. 오늘은 CNN 말고 다른 방법으로 분류하는 방법에 대해서 소개해 드 aiegg-travel.. Ensemble 모델로 Wafer Map Defect Pattern 분류하기 (논문 리뷰) 안녕하세요. 톡발이입니다. 지난 글에서는 CNN을 활용해서 Wafer Map (WM)의 결함 패턴을 분류하는 방법에 대해서 알아보았는데요. 오늘은 CNN 말고 다른 방법으로 분류하는 방법에 대해서 소개해 드리려고 합니다. 오늘 리뷰할 논문은 " A Voting Ensemble Classifier for Wafer Map Defect Patterns Identifications in Semiconductor Manufacturing "이라는 논문으로 Ensemble 기법을 사용해 wafer map을 분류하는 방법에 대해서 나와 있는 논문입니다. 이전 연구들의 한계 초창기 때, wafer map defect를 분류하기 위해 시도했던 방법들에는 다음과 같은 문제점들이 있었습니다. 첫째, wafer 제조 기술의.. Wafer Map Defect Pattern Classification Using CNN 실습 (2) 안녕하세요. 톡발이입니다. 오늘 지난 글에 이어서 계속 실습을 진행해보려고 합니다. 지난 글에서 wafer map dataset을 생성하는 것까지 완료했는데요. 오늘은 이렇게 만들어진 dataset을 가지고 CNN 모델을 직접 설계해서 분류해 보는 실습을 진행해 보겠습니다. 2023.10.18 - [분류 전체 보기] - Wafer Map Defect Pattern Classification Using CNN 실습 (1) Wafer Map Defect Pattern Classification Using CNN 실습 (1) 안녕하세요. 톡발이입니다! 오늘은 제가 지난 글에서 리뷰한 CNN을 활용해 wafer map의 이상을 감지하고 분류하는 논문의 방법대로 실제로 dataset도 생성해 보고 CNN을 이용해.. 이전 1 다음
