multi-types features (1) 썸네일형 리스트형 Kaggle WM Dataset으로 Wafer Map Defect Pattern 분류 실습 (논문 리뷰) 안녕하세요. 톡발이입니다. 오늘은 Kaggle에서 제공하는 실제 Wafer map 이미지 dataset을 통해서 지난 시간에 리뷰한 논문의 방법을 일부 채택하여 결함 패턴을 분류하는 실습을 해보려고 합니다. 지난 글의 내용은 아래에서 확인이 가능합니다. 2023.10.20 - [분류 전체 보기] - Ensemble 모델로 Wafer Map Defect Pattern 분류하기 (논문 리뷰) Ensemble 모델로 Wafer Map Defect Pattern 분류하기 (논문 리뷰) 안녕하세요. 톡발이입니다. 지난 글에서는 CNN을 활용해서 Wafer Map (WM)의 결함 패턴을 분류하는 방법에 대해서 알아보았는데요. 오늘은 CNN 말고 다른 방법으로 분류하는 방법에 대해서 소개해 드 aiegg-travel.. 이전 1 다음
