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Wafer Map Defect Pattern Classification Using CNN 실습 (1) 안녕하세요. 톡발이입니다! 오늘은 제가 지난 글에서 리뷰한 CNN을 활용해 wafer map의 이상을 감지하고 분류하는 논문의 방법대로 실제로 dataset도 생성해 보고 CNN을 이용해 분류해 보는 실습을 진행해 보려고 합니다. 지난 글의 내용은 아래 링크를 통해 확인해 보실 수 있습니다. 2023.10.17 - [분류 전체 보기] - CNN으로 Wafer Map Defect Pattern 분류하기 (논문 리뷰) CNN으로 Wafer Map Defect Pattern 분류하기 (논문 리뷰) 안녕하세요. 이 글에서는 CNN으로 Wafer Map Defect Pattern을 분류하는 방법을 제안하는 논문을 하나 리뷰해 보려고 합니다. "Wafer Map Defect Pattern Classification..
Homogeneous Poisson Process 생성 안녕하세요. 톡발이입니다. 제가 CNN을 이용해 wafer map defect 분류하는 논문을 리뷰한 적이 있었는데요. Wafer에 대한 정보는 회사에서 공개를 하지 않기 때문에 직접 시뮬레이션으로 dataset을 만들어서 쓰는 경우가 대부분입니다. 오늘은 논문에서 어떤 식으로 wafer map을 만들었는지, 그에 관련된 알고리즘을 알아보겠습니다. 2023.10.17 - [분류 전체 보기] - CNN으로 Wafer Map Defect Pattern 분류하기 (논문 리뷰) CNN으로 Wafer Map Defect Pattern 분류하기 (논문 리뷰) 안녕하세요. 이 글에서는 CNN으로 Wafer Map Defect Pattern을 분류하는 방법을 제안하는 논문을 하나 리뷰해 보려고 합니다. "Wafer M..
CNN으로 Wafer Map Defect Pattern 분류하기 (논문 리뷰) 안녕하세요. 이 글에서는 CNN으로 Wafer Map Defect Pattern을 분류하는 방법을 제안하는 논문을 하나 리뷰해 보려고 합니다. "Wafer Map Defect Pattern Classification and Image Retrieval Using Convolution Neural Network"이라는 논문입니다. TDA를 배우기 전에 먼저 기존에는 Wafer Map을 어떻게 분류했는지의 방법들에 대해서 짚고 넘어가려 합니다. 지난 글에서 제가 wafer map은 반도체 제조 과정 중 die의 root cause를 식별하는 데에 있어 엔지니어들에게 중요한 정보를 제공한다고 했었죠. 이 논문은 CNN을 사용한 wafer map defect pattern classification 및 imag..
Wafer map과 Topological Data Analysis 소개 안녕하세요. 톡발이입니다. 저는 현재 수학과에 다니면서 인공지능을 공부하고 있습니다. 제가 공부한 내용들을 기록하고 공유하는 목적으로 블로그를 작성하게 되었습니다. 요즘 제가 공부하고 있는 분야는 위상수학을 적용한 반도체 이상 감지입니다. 쉽게 말해서 반도체에 있는 이상을 인공지능으로 분류하겠다는 것인데요 기존에는 CV 분야의 가장 대표적인 CNN을 통해서 분류를 했다면 저는 Topological Data Analysis (TDA)를 적용해서 분류를 해보려고 합니다. 그럼 가장 먼저 제가 이용한 데이터셋이 뭔지부터 차근차근 설명해 드리겠습니다. 반도체 (Semiconductor) 반도체의 이상을 감지해야 하니까 먼저 반도체가 뭔지 알아야겠죠? 반도체를 설명하기 전에 먼저 도체와 부도체에 대해서 간단히 설..